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背光(Back Light) 点灯检测

作为LCD重要组成部分,背光源头的品质管理,至关重要,通过AOI自动检测的导入,可以保证高质量的品质管理,减少产品受到人工的二次损伤,我司目前背光检测项目已是一款带有多项技专利的成熟产品,可以直接使用,主要针对背光的亮点,划伤,暗点等等进行检测。

背光(Back Light) 点灯检测

作为LCD重要组成部分,背光源头的品质管理,至关重要,通过AOI自动检测的导入,可以保证高质量的品质管理,减少产品受到人工的二次损伤,我司目前背光检测项目已是一款带有多项技专利的成熟产品,可以直接使用,主要针对背光的亮点,划伤,暗点等等进行检测。

关键特征 设备参数 适用范围 相关产品
关键特征

  系统采用国际领先的高分辨率工业相机,搭配定制特殊三色滤光片,结合符合人眼感官特性的滤波算法,能稳定检测最小缺陷尺寸为26μm,最高可检测10μm 的缺陷,对Mura 缺陷可以进行量化分级 ,稳定检测2mm×2mm、对比度在3%以上的Mura缺陷,该设备已经超过人眼的检测质量水平,并能够提供更高的检测效率。 系统可分为在线、离线两种模式,同时又可根据产线要求进行专门开发及多种相机数目升级,实现最佳效率配置。

设备参数
技术规格
设备名称 背光模组自动检测
检查机种类 外观检查
检查位置 背光点灯Active区域
检查数量 1PCS
检查速度 1PCS<4s
镜头检查高度 10cm-25cm
相机分辨率 1600万
检测最小分辨精度 2um
不良检测种类 背光划伤,背光白点,背光Sheet偏移,背光污点等
适用范围

 LCD ,Cell 段和Module 段基于视觉与图像处理技术,在屏幕点亮的情况下对其进行自动化光学检测的系统。
 检测液晶屏幕显示中的暗点、辉点、暗线、辉线及Mura 等缺陷。
 视觉AOI点灯检测系统,可以对LCD  Cell 段和Module 段中的各种点、线、Mura质量缺陷进行精确量化检测。

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